Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОТЕХНИКА → Полупроводниковые материалы
ГОСТ 26239.5-84. Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01
| Название на англ.: | Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination |
| Тип документа: | стандарт |
| Статус документа: | действующий |
| Число страниц: | 18 |
| Дата актуализации текста: | 22.03.2010 |
| Дата актуализации описания: | 22.03.2010 |
| Дата издания: | 21.01.1985 |
| Дата введения в действие: | 01.01.1986 |
| Дата последнего изменения: | 23.06.2009 |
